10 CHIAVE DI REGISTRO PER AVVIARE TRATTAMENTO ANTISCIVOLO

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10 CHIAVE DI REGISTRO PER AVVIARE TRATTAMENTO ANTISCIVOLOTrattamento antiscivolo di piastrelle di ceramica smaltate: microstrutturali e modifiche topografiche
Il gres porcellanato è un prodotto per il quale l’interazione tra tecnologia di produzione e le proprietà fisico-meccaniche è particolarmente sviluppata, con ottimi risultati. Nonostante le sue eccellenti caratteristiche tecniche, la resistenza allo scivolamento può essere significativamente diverso a seconda della finitura della superficie della piastrella: composto o liscio, verniciato o lucidato. Al fine di ridurre il rischio di scivolare sul già installato piastrelle in ceramica, i vari trattamenti di superficie sono stati introdotti sul mercato. La maggior parte di questi trattamenti consistono di base di acido applicazioni (fluoruro di idrogeno o di ammonio bifluoride) in grado di produrre incisione chimica della superficie ceramica.

In letteratura numerosi lavori dedicati microstrutturali modifica di piastrelle smaltate in acido o di base o per l’ambiente [1-3]. In alcune opere, riguardanti l’uso di prodotti chimici di attacco come un mezzo di non-slip trattamento, il problema è considerata dal punto di vista della sicurezza, senza più approfondito studio delle caratteristiche delle superfici di ceramica [4-5]. La profonda conoscenza della microstruttura della superficie della piastrella, la topografia e la consistenza parametri gioca un ruolo chiave nella valutazione di quello che sarà il risultato se l’acido superficie anti-scivolo trattamento senza danneggiare la ceramica.

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In particolare, il rilievo della superficie è una caratteristica importante per le piastrelle di ceramica di superficie. Per misurare i parametri di superficie, ci sono molti diversi tipi di strumenti. In genere, i metodi di misurazione possono essere suddivisi in due categorie: a) i tipi di contatti e B) contactless tipi. Tipo di contatto stilo marcatori sono più popolari, ma di recente contactless filtri sono stati sviluppati e sono ampiamente utilizzati, come ad esempio sistemi di microscopia confocale e interferometrica microscopi. Nel nostro tempo, la presenza di questa nuova generazione di strumenti di misura ha promosso qualitativa e quantitativa struttura del piano di caratterizzazione, non solo per il pre-ceramica, ma anche per le ceramiche tradizionali. In generale,

Nel presente lavoro la superficie commerciale in gres porcellanato smaltato è stato studiato e analizzato prima e dopo il trattamento antiscivolo. L’obiettivo è quello di trovare, se c’è una correlazione tra la loro resistenza allo scivolamento (antiscivolo) e la loro superficie microstruttura e rilievo 3D, e la loro superficie parametri.

Sperimentale
Indagati a causa vetri, lastre di granito piastrelle con lo stesso chimica e mineralogica composizione, con diverse finiture di superficie: piastrelle e caratterizzata da una non uniforme e ruvida la superficie, e piastrelle b con omogenea e liscia la superficie. Disponibile sul mercato per il trattamento di rivestimento anti-scivolare fuori è costituito da una soluzione basata acido fluoridrico che è stato applicato sulla superficie ceramica da seguire le istruzioni del produttore (manualmente) e stato permesso di stare in piedi per 1 minuto per piastrelle e e 30 secondi per piastrelle B. La caratteristica superficie è stata effettuata al grezzo e con superficie lavorata campioni, vieni piastrelle (“non trattato” o “curare”) e piastrelle “B”, “B non trattato” o “trattati”).

Lo studio degli effetti causati dal trattamento di superficie ceramica su scala microscopica è stato condotto dai seguenti metodi analitici:

analisi mineralogica e microstruttoria:
Diffrazione a raggi X (XRD PW 3830; Philips, NL);
microscopia elettronica a scansione (SEM), Zeiss EVO 40, D), e raggi x энергодисперсионная spettroscopia микроанализ (EDS, Inca, Oxford Instruments, regno UNITO) con la tipica crescente tensione di elettroni (EHT) 25 mq;
anche

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La tabella 1 mostra le fasi mineralogiche individuare sulla superficie dei campioni di tegole grezze “grezze” e “B grezze”in ordine di numero. Radiografica dipinti entrambi i campioni mostrano anche la presenza di un numero significativo di amorfo (некристаллического) di fase, l’ultima composizione di piastrelle di ceramica.

Appendiabiti. 1: composizione mineralogica dei campioni grezzi per le piastrelle A e B.
Campioni di fasi mineralogiche
Quarzo” grezzo”, plagioclasio, Zircone (tracce)
Quarzo” B non trattato”, plagioclasio, Zircone, corindone (tracce)
In figura. 1 mostra i risultati della microanalisi elementare SEM-EDS eseguita sulla superficie dei campioni “grezzo”e” B grezzo”. Lo stesso микроанализ, condotto su superfici trattate campioni, qui non si dice, così come non è stato rilevato cambiamenti significativi in элементном composizione rispetto alle parti di campione.

Fico. 1: gli spettri EMF sono ottenuti sulla superficie dei campioni di piastrelle grezzi A e B a venire segue: “grezzi “[scala completa = 251 grafici] (a) e ” B grezzi “[scala completa = 686 punti] (B).
In figura. 2-5 questa tipiche SEM-microfotografia non trasformati e trasformati campioni di piastrelle a e B. confrontando questi microfotografia (trasformati e non trasformati campioni), si può concludere che il trattamento di superficie avvelena amorfo fase e fa mineralogiche (cristallo) di fase, presenti sulla superficie, spiccano in microfotografia [2-3].

Fico. 2: microfotografia tipica della superficie Sam di campioni di piastrelle grezzi e lavorati a, presi con un minore aumento: “grezzi “(A) e” trattati ” (B).

Fico. 3: micrografi Sam superfici di campioni di piastrelle grezzi e lavorati a, prese con un ingrandimento superiore: “grezzi” (A) e “trattati” (B).

Fico. 4: i tipici micrografi SEM della superficie dei campioni di piastrelle grezzi e lavorati B presi con un minore aumento: “B grezzi “(a) e “B lavorati” (b).

Fico. 5: micrografi SEM della superficie dei campioni di piastrelle grezzi e lavorati B presi con un aumento più asc: “B grezzi “(a) e “B lavorati” (b).
L’area (2,93 × 2,2 mm) delle superfici di entrambi i campioni di piastrelle a (“grezzo” e “trattato”) è stata visualizzata da una microscopia confocale utilizzando onu obiettivo 10x. Nelle immagini in Fig. 6 prelevati dei campioni “non trasformati” e “trattato”, mostrando tridimensionali presentazione di topologie di superficie con la scala cromatica per Z-band, calibrata in micrometri (µm).

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Quando si confrontano le immagini, non si vedono differenze morfologiche significative tra i due campioni di piastrelle A. contorno del grafico (vedi Fig. 7) negli stessi dovuto posti raffigurati in Fig. 6 illustrano rappresentante curva di livello per diversi punti sulla superficie con la stessa altezza su una scala del micrometro. Dopo aver osservato i grafici, è possibile vedere che le curve di livello in punti diversi hanno le stesse forme per entrambi i campioni. Inoltre, non vi è alcuna differenza significativa nei valori di altezza ottenuti per i parametri di rugosità definiti per ogni area analizzata (vedere tabella. 2).

Fico. 6: 3D microscopia confocale mattina (lente 10x), con i colori di serie Z, superficie sulla superficie grezzi e lavorati campioni di fogli: “non trattato” [5.8 mm x 4.4 mm x 130.8 µm] (e) e “trattati” [5.8 mm x 4.4 mm x 141.6 µm] (b).

Fico. 7: contorno grafico con scala cromatica per z-band, riguardanti le aree superficiali non trasformati e trasformati campioni di piastrelle e mostrati in figura. 6A e 6b: “non trattati”) e “trattati” b).
Appendiabiti. 2: i valori di alcuni parametri di rugosità di superficie in altezza per i settori non trattato o trattato piastrelle campione e mostrati in figura. 6 (filtro di taglio di Gauss: 0,25 mm).
ISO 25178 parametri di altezza “non trattato “” trattato”
Sp (mm) altezza del picco più alto 62.52 82.14
Sv (µm) cava più profonda 74.41 65.34
SZ (µm) somma Sp + Sv 136.93 147.49
Sa (µm) media aritmetica del valore assoluto di altezze 12.06 11.05
Con ingrandimenti più alti (utilizzando l obiettivo 20x) vengono visualizzate le aree di superficie 2.92 × 1.71 mm. immagine 3D della superficie studiata (vedi Fig. 8), così come i parametri di rugosità (vedi tabella. 3), riflettono una trama simile per entrambi i campioni di piastrelle (lavorati e non trattati).

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Fico. 8: 3D конфокальном microscopio mattina (20x lente), con i colori di serie Z, di superficie non trasformati e trasformati campioni di fogli: “non trattato” [2.9 mm x 1.7 mm x 62.9 µm] (e) e “trattati” [2.9 mm x 1.7 mm x 68,6 µm] (b).
Appendiabiti. 3: i valori di alcuni parametri di rugosità di superficie in altezza per i settori non trattato o trattato piastrelle campione e mostrati in figura. 8 (Filtro di taglio di Gauss: 0,25 mm).
ISO 25178 parametri di altezza “non trattato “” trattato”

caratteristica e mappatura del terreno:
microscopio / profilometro ottico 3D (Leica DCM 3D) in modalità confocale.
Poiché lo scopo dello studio è quello di valutare l’effetto del Trattamento superficiale sulle caratteristiche antiscivolo (resistenza allo scivolamento) delle piastrelle, i test sono stati condotti secondo i seguenti standard: DIN 51130 [7] e DIN 51097 [8]. Queste norme descrivono i metodi market leader noti venire prova della rampa colomba, una persona con обутыми piede (indossando le scarpe) o passeggiate a piedi nudi sulla propensa superficie. La superficie propensa può anche essere ricoperta di lubrificante, quali olio, acqua saponata, acqua pura, ecc. Secondo queste norme, la persona della prova cammina avanti e indietro su una superficie piana ricoperta delle mattonelle da studiare, mentre progressivamente è inclinata. La superficie può essere pulita o ricoperta di grasso. Viene quindi determinato l’angolo di inclinazione in cui una persona inizia a scivolare.

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